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致茂Chroma 19501-K 局部放電測試儀

主要特色：

• 單機內(nèi)建高電壓耐壓測試與PD偵測功能
• 可程式交流電壓 0.1kVac ~ 10KVac
• 高精度及高解析度電流表 0.01uA ~ 300uA
• 局部放電(PD)偵測范圍 1 pC ~ 2000 pC
• 高壓接觸檢查功能(HVCC)
• 符合IEC60747-5-5與IEC 60270-1 法規(guī)測試要求
• 內(nèi)建IEC60747-5-5 測試方法
• 三段電壓測試功能
• PD測量結(jié)果數(shù)字化顯示(pC)
• PD 不良發(fā)生判定次數(shù)設(shè)定 (1~10)
• 繁中/ 簡中 / 英文操作介面
• USB畫面擷取功能
• 圖形化輔助編輯功能
• 標準LAN, USB, RS232遠端控制介面

Chroma 19501-K 局部放電測試器結(jié)合高電壓耐壓測試與局部放電(Partial Discharge)偵測功能于一單機，提供交流電壓輸出大10kV，漏電流量測范圍從0.01uA~300uA，局部放電偵測范圍小可偵測1pC放電量，針對高壓半導體元件及高絕緣材料測試應(yīng)用所開發(fā)。產(chǎn)品設(shè)計符合IEC 60270-1與IEC60747-5-5法規(guī)要求，同時內(nèi)建IEC 60747-5-5法規(guī)之測試方法在儀器內(nèi)部，滿足光耦合器產(chǎn)品生產(chǎn)測試需求，并提供給使用者一個便利操作介面.

在生產(chǎn)線上執(zhí)行高壓測試時，如果被測物未能正確及良好連接測試線，將導致測試結(jié)果失敗甚至是漏測的風險。因此，在測試前確保被測物與測試線良好連接是非常重要的。 Chroma *之HVCC高壓接觸檢查功能(High Voltage Contact Check)，利用Kelvin測試方法針對高絕緣能力之元件于高壓輸出時同步進行接觸檢查，提升其測試可靠度與效率。

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 致茂Chroma 19501-K 局部放電測試儀